Substrat SiC 3 inci ketebalan 350um jenis HPSI Gred Utama Gred Dummy

Penerangan Ringkas:

Wafer Silikon Karbida (SiC) Ketulenan Tinggi 3 inci direka bentuk khusus untuk aplikasi yang mencabar dalam elektronik kuasa, optoelektronik dan penyelidikan lanjutan. Tersedia dalam Gred Pengeluaran, Penyelidikan dan Dummy, wafer ini memberikan kerintangan yang luar biasa, ketumpatan kecacatan yang rendah dan kualiti permukaan yang unggul. Dengan sifat separa penebat tanpa dop, ia menyediakan platform ideal untuk menghasilkan peranti berprestasi tinggi yang beroperasi di bawah keadaan terma dan elektrik yang melampau.


Ciri-ciri

Hartanah

Parameter

Gred Pengeluaran

Gred Penyelidikan

Gred Dummy

Unit

Gred Gred Pengeluaran Gred Penyelidikan Gred Dummy  
Diameter 76.2 ± 0.5 76.2 ± 0.5 76.2 ± 0.5 mm
Ketebalan 500 ± 25 500 ± 25 500 ± 25 µm
Orientasi Wafer Pada paksi: ± 0.5° Pada paksi: ± 2.0° Pada paksi: ± 2.0° ijazah
Ketumpatan Mikropaip (MPD) ≤ 1 ≤ 5 ≤ 10 cm−2^-2−2
Kerintangan Elektrik ≥ 1E10 ≥ 1E5 ≥ 1E5 Ω·cm
Dopan Tidak didop Tidak didop Tidak didop  
Orientasi Rata Utama {1-100} ± 5.0° {1-100} ± 5.0° {1-100} ± 5.0° ijazah
Panjang Rata Utama 32.5 ± 3.0 32.5 ± 3.0 32.5 ± 3.0 mm
Panjang Rata Sekunder 18.0 ± 2.0 18.0 ± 2.0 18.0 ± 2.0 mm
Orientasi Rata Sekunder 90° CW dari aras primer ± 5.0° 90° CW dari aras primer ± 5.0° 90° CW dari aras primer ± 5.0° ijazah
Pengecualian Tepi 3 3 3 mm
LTV/TTV/Busur/Lingkup 3 / 10 / ±30 / 40 3 / 10 / ±30 / 40 5 / 15 / ±40 / 45 µm
Kekasaran Permukaan Si-muka: CMP, C-muka: Digilap Si-muka: CMP, C-muka: Digilap Si-muka: CMP, C-muka: Digilap  
Retakan (Cahaya Berintensiti Tinggi) Tiada Tiada Tiada  
Plat Heks (Cahaya Berintensiti Tinggi) Tiada Tiada Kawasan kumulatif 10% %
Kawasan Politaip (Cahaya Berintensiti Tinggi) Kawasan kumulatif 5% Kawasan kumulatif 20% Kawasan kumulatif 30% %
Calar (Cahaya Berintensiti Tinggi) ≤ 5 calar, panjang kumulatif ≤ 150 ≤ 10 calar, panjang kumulatif ≤ 200 ≤ 10 calar, panjang kumulatif ≤ 200 mm
Keratan Tepi Tiada ≥ 0.5 mm lebar/kedalaman 2 dibenarkan ≤ 1 mm lebar/kedalaman 5 dibenarkan ≤ 5 mm lebar/kedalaman mm
Pencemaran Permukaan Tiada Tiada Tiada  

Aplikasi

1. Elektronik Berkuasa Tinggi
Kekonduksian terma yang unggul dan jurang jalur yang luas bagi wafer SiC menjadikannya sesuai untuk peranti frekuensi tinggi berkuasa tinggi:
●MOSFET dan IGBT untuk penukaran kuasa.
●Sistem kuasa kenderaan elektrik termaju, termasuk penyongsang dan pengecas.
●Infrastruktur grid pintar dan sistem tenaga boleh diperbaharui.
2. Sistem RF dan Ketuhar Gelombang Mikro
Substrat SiC membolehkan aplikasi RF dan gelombang mikro frekuensi tinggi dengan kehilangan isyarat minimum:
●Sistem telekomunikasi dan satelit.
●Sistem radar aeroangkasa.
●Komponen rangkaian 5G lanjutan.
3. Optoelektronik dan Sensor
Sifat unik SiC menyokong pelbagai aplikasi optoelektronik:
●Pengesan UV untuk pemantauan alam sekitar dan penderiaan perindustrian.
●Substrat LED dan laser untuk pencahayaan keadaan pepejal dan instrumen ketepatan.
●Sensor suhu tinggi untuk industri aeroangkasa dan automotif.
4. Penyelidikan dan Pembangunan
Kepelbagaian gred (Pengeluaran, Penyelidikan, Dummy) membolehkan eksperimen canggih dan prototaip peranti dalam akademik dan industri.

Kelebihan

●Kebolehpercayaan:Kerintangan dan kestabilan yang sangat baik merentasi gred.
●Penyesuaian:Orientasi dan ketebalan yang disesuaikan untuk memenuhi keperluan yang berbeza.
●Ketulenan Tinggi:Komposisi tanpa doping memastikan variasi berkaitan bendasing yang minimum.
●Kebolehskalaan:Memenuhi keperluan pengeluaran besar-besaran dan penyelidikan eksperimen.
Wafer SiC ketulenan tinggi 3 inci ialah pintu masuk anda kepada peranti berprestasi tinggi dan kemajuan teknologi inovatif. Untuk pertanyaan dan spesifikasi terperinci, hubungi kami hari ini.

Ringkasan

Wafer Silikon Karbida (SiC) Ketulenan Tinggi 3-inci, yang terdapat dalam Gred Pengeluaran, Penyelidikan dan Dummy, merupakan substrat premium yang direka untuk elektronik berkuasa tinggi, sistem RF/gelombang mikro, optoelektronik dan R&D termaju. Wafer ini mempunyai ciri-ciri separa penebat tanpa dop dengan kerintangan yang sangat baik (≥1E10 Ω·cm untuk Gred Pengeluaran), ketumpatan mikropaip yang rendah (≤1 cm−2^-2−2) dan kualiti permukaan yang luar biasa. Ia dioptimumkan untuk aplikasi berprestasi tinggi, termasuk penukaran kuasa, telekomunikasi, penderiaan UV dan teknologi LED. Dengan orientasi yang boleh disesuaikan, kekonduksian terma yang unggul dan sifat mekanikal yang teguh, wafer SiC ini membolehkan fabrikasi peranti yang cekap dan andal serta inovasi inovatif merentasi industri.

Gambarajah Terperinci

Penebat Separa SiC04
Penebat Separa SiC05
Penebat Separa SiC01
Penebat Separa SiC06

  • Sebelumnya:
  • Seterusnya:

  • Tulis mesej anda di sini dan hantarkannya kepada kami